主要应用范围 

材料分析和镀层厚度测量，范围从元素铝（Z=13）至铀（Z=92） 

产品特点 

操作容易，快速；人手定位样品。配备多种准直器确保有高强度讯号。配备6个滤波片。 

标准软件 

WinFTM® V.6;PDM 

测量方向 

由下至上 

X-射线管 

微焦距；可加Ni和Al滤片；可编程节能功能 

准直器 

4个圆形准直器；圆形：直径0.2mm/0.6mm/1mm/2mm 

软件控制，马达调节 

最小测量面积 

直径;0.3mm 

有效对焦范围 

2 mm 

接收器 

高能量解像度半导体接收器 

测量台 

固定测量台 

放置样品及定位 

样品可直接放在测量台上定位 

测量室 

全封闭，向上开盖式 

测量室尺寸 

W X D X H(mm):380 X 576 X 340 

测量尺寸 

W X D X H(mm):318 X 203 X 86 

测量室 

大容量，配备固定及可更换的样品支架 

测量样品的最大重量 

2KG 

测量点对焦 

利用旋钮视觉对焦 

放大倍数 

光学变倍：34-46X；放大倍数：1-4；最大范围：34-184X 

能量分辨率 

180ev 

脉冲处理器 

超快数字脉冲处理器 

最大脉冲率/秒 

100,000